Mikroskop optyczny:
Promienie świetlne wytworzone w źródle światła przechodzą przez soczewkę kondensorową, a następnie przez układ przysłon apertury, pola widzenia i soczewek pomocniczych. Po załamaniu się na płytce półprzepuszczalnej zostaje skierowane w stronę obiektywu, aby po załamaniu się w jego soczewkach oświetlić wiązkę równoległych promieni szczegóły powierzchni zgładu. Po odbiciu od szczegółów powierzchni preparatu promienie ponownie przechodzą przez obiektyw, płytkę przepuszczalną i tworzą rzeczywisty obraz pośredni, który następnie jest powiększany przez soczewkę okularową.
Typy obiektywów:
- obiektyw achromatyczny – skorygowany jest tylko na dwie barwy światła, na aberrację sferyczną – zwykle w zakresie światła żółtozielonego, natomiast na aberrację chromatyczną– w zakresie światła zielonego i czerwonego. Obiektywy te nie dają prawidłowego odwzorowania struktur barwnych ze względu na zbyt ograniczony zakres korekcji.
- obiektyw apochromatyczny – skorygowany na aberrację chromatyczną w zakresie trzech podstawowych barw światła: czerwonej, zielonej, fioletowej oraz na aberrację sferyczną dla światła zielonego i fioletowego. Zastosowanie okularów kompensacyjnych , które korygują zmiany wymiarów obrazu pośredniego w tych obiektywach, daje dopiero bardzo dobry jakościowo obraz końcowy. Nadają się one szczególnie do obserwacji przy dużych powiększeniach oraz mikrofotografii.
- obiektyw planochromatyczny lub planapochromatyczny – skorygowany podobnie jak obiektyw achromatyczny lub apochromatyczny; oprócz tego ma dobrze skompensowane aberracje sferyczne, co pozwala uzyskać, pozbawiony krzywizny pola, płaski obraz. Obiektywy te mogą współpracować z okularami Huygensa, a przy mikrofotografii ze specjalnymi okularami kompensacyjnymi o płaskim polu.
Powiększanie mikroskopu:
Najdokładniejszą metodą wyznaczania powiększenia mikroskopu jest użycie w charakterystyce wzorcowej z naciętymi precyzyjnie na jej powierzchni odpowiednio małymi odcinkami na odległości 1 [mm] (np. co 0,01). Powiększenie mikroskopu oblicza się wtedy jako stosunek odległości odpowiednich odcinków zmierzonych w obrazie płytki wzorcowej do ich odległości rzeczywistej na płytce.
Przygotowanie próbek do badań mikroskopowych