Obserwacja zmienności składu chemicznego badanego obiektu (np. budowy strefowej): zalecane – polerowanie powierzchni zgładu, wskazane – polerowanie powierzchni i napylenie warstwą przewodzącą. Obserwacja katodoluminescencji: zalecane – polerowanie powierzchni zgładu, wskazane – polerowanie powierzchni i napylenie warstwą przewodzącą. Przy przygotowywaniu próbek trzeba jednak brać pod uwagę również inne czynniki: z jakiego rodzaju próbkami i jaką ich […]
Artykuły otagowane:badania mikroskopowe
Badania za pomocą mikroskopu skaningowego
Mikroskop skaningowy: Mikroskop elektronowy jest przyrządem, w którym powiększony obraz badanego preparatu uzyskuje się wykorzystując wiązkę elektronów. Mikroskopy prześwietleniowe, w których wiązka elektronów przenika przez badany cienki preparat, stanowią mniejszość wśród przyrządów pracujących ze skaningowym systemem tworzenia obrazu. Coraz większa liczba wysokiej klasy mikroskopów prześwietleniowych wyposażona jest jednak w dodatkowe układy do skanowania wiązki. Wynika […]
Badania za pomocą mikroskopu optycznego
Mikroskop optyczny: Promienie świetlne wytworzone w źródle światła przechodzą przez soczewkę kondensorową, a następnie przez układ przysłon apertury, pola widzenia i soczewek pomocniczych. Po załamaniu się na płytce półprzepuszczalnej zostaje skierowane w stronę obiektywu, aby po załamaniu się w jego soczewkach oświetlić wiązkę równoległych promieni szczegóły powierzchni zgładu. Po odbiciu od szczegółów powierzchni preparatu promienie […]
Badania mikroskopowe – podstawowe informacje
Typ mikroskopu Optyczny Elektronowy skaningowy Elektronowy transmisyjny Emisja światło wiązka elektronowa wiązka elektronowa Ośrodek atmosferta próżnia próżnia Rozdzielczość 1µm ~4µm ~0,2µm Kontrast pochłanianie/odbicie efekt elektronów wtórnych rozpraszanie dyfrakcyjne Obiektyw obiektyw optyczny szklany obiektyw elektromagnetyczny obiektyw elektromagnetyczny Głębia ostrości płytka bardzo głęboka głęboka Metoda zmiany powiększenia wymiana obiektywu szerokość skanowania wzbudzenie powiększenia układu obiektywu Grubość próbki […]
